內(nèi)校天平為什么還要用外校砝碼行校準(zhǔn) 答案：天平的內(nèi)校其實(shí)就是點(diǎn)校準(zhǔn)，但無論是認(rèn)證檢查還是企業(yè)在日常操作中都要求對常用稱量范圍行確認(rèn)。天平內(nèi)校不能滿足這個(gè)需求，因此，外置標(biāo)準(zhǔn)砝碼的校準(zhǔn)還是非常必要的。 解析：應(yīng)每天對電子天平行校準(zhǔn)，校準(zhǔn)用經(jīng)校驗(yàn)的標(biāo)準(zhǔn)砝碼，校準(zhǔn)應(yīng)涵蓋zuizui小稱量范圍（兩個(gè)標(biāo)準(zhǔn)砝碼），每個(gè)標(biāo)準(zhǔn)砝碼平行測量2次，且單次測量偏差不得過此電子天平規(guī)定允差范圍。記錄測量值，與上級法碼測量值比對，差值要符合允差范圍。 如果該天平校驗(yàn)不到上次天平校驗(yàn)的時(shí)段內(nèi)的樣品需重檢，所得檢測數(shù)據(jù)均無效，并且要行偏差調(diào)查處理。 
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